光焱科技 電致發光效率測試系統 LQ-50X-EL介紹

目前 LED 發展所面臨的挑戰包含：

(1) 新型態的 LED 具備低亮度 (< 50000 cd/m²)、衰減快的特性

(2) 發光半寬（FWHM）較傳統 LED 小 (OLED~100 nm; PVSK LED~50 nm)

(3) 非朗伯體 (Non-Lambertian) 分布，使得輝度 (cd/m²) 換算 EQE 時誤差很大

(4) 發光波長超過視函數波段 (可見光范圍)，無法以光通量與輝度評價

其中「衰減快」與「紅外發光的準確評價」，是與轉換效率高低最息息相關，因此光焱科技推出 LQ-50X-EL，采用單光子偵測技術、NIR 增強光學設計與組件并擁有簡便的設計可與手套箱直接整合。

特色

光焱科技 電致發光效率測試系統 LQ-50X-EL 的特色如下：

*采用單光子偵測技術，克服傳統光譜儀在低亮度需要長曝光時間 (1~3秒) 的特征，加快測試速度，以確保測試的準確性與高效率。

*采用 NIR 增強光學設計與組件，使其涵蓋波長可達到 1100 nm，更可擴展到 1700 nm。

*設計簡便，并且可與手套箱直接整合，同時對于各種樣品形式都可以做很好的適配。

LQ-50X-EL 可快速測試每個電壓下的發光光譜，并可取得輻照度、輝度、CIE坐標等多項參數值，實測無機 LED 測試量測不重復性小于 0.2 %。

LQ-50X-EL 為 NIST 溯源，與國外校正的白光與綠光 LED 比對，差異值小于 0.5 %。

規格

標準配置：

*全向式收光系統 (50 mm 積分球)

*增強型多信道光譜儀測試系統

*探針系統

*量測軟件

*工控機與屏幕

選配規格：

*紅外光譜擴充模塊 (900 – 1700 nm)

*手套箱整合套件

應用范圍

光焱科技 電致發光效率測試系統 LQ-50X-EL 可用于：

*Perovskite LED / Perovskite Laser Diode

*Organic IR LED

*QD LED / QD Laser Diode

*VESEL Laser Diode

實證

量測結果總覽